塗鍍層測厚儀

原理(lǐ)簡介：

F探頭磁性法測量導磁性金屬基體(如(rú)鋼、鐵、合金鋼、硬磁性鋼等，但不包括奧氏體鋼和(hé)軟磁性鋼等)上非磁性塗鍍層(如(rú)油漆、陶瓷、橡膠、鋁、鉻、銅、錫等)的(de)厚度。

N探頭渦流法測量非磁性金屬基體(如(rú)銅、鋁、鋅、錫、奧氏體非磁性不鏽鋼等)上非導電覆蓋層的(de)厚度(如(rú)：橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。 

磁性法基本工作原理(lǐ)  

磁性法：當測頭接觸鐵磁基體(或其他磁性金屬)時形成一(yī)閉合磁路，由于塗鍍層的(de)存在，穿過線圈的(de)磁通量與塗鍍層厚度的(de)變化會導緻磁路磁阻發生變化，通過測量其變化便可(kě)通過計算導出塗鍍層的(de)厚度。

渦流法基本工作原理(lǐ)

渦流法：當測頭靠近金屬基體時，由于高(gāo)頻交變電流在線圈中産 生了電磁場，金屬基體會形成電渦流并對線圈産生反饋，随後通過測量反饋量的(de)大小可(kě)推導出相對應的(de)厚度值。

塗鍍層測厚儀 PCE-CT 110

PCE-CT 110塗鍍層測儀是通過技術性，它能、無損傷 地(dì)進行塗 鍍層厚度的(de)測 。既可(kě)用于實驗室，也可(kě)用于工程現場 通過使用不同的(de)測頭，還可(kě)滿足多種測 的(de)需要 PCE CT 110能廣泛地(dì)應用在制造業 金屬加工業、化工業 商檢等檢測領域。是材料保護的(de)儀器解決了困擾大家許久的(de)溫度漂移問題，當被測物與環境溫度偏差較大時，實測值與真實值差異大的(de)難題.

PCE-CT 110塗鍍層測 儀是通過**技術提升測 精準性，它能快速、無損傷 精密地(dì)進行塗 鍍層厚度的(de)測 。既可(kě)用于實驗室，也可(kě)用于工程現場 通過使用不同的(de)測頭，還可(kě)滿足多種測 的(de)需要 PCE CT 110能廣泛地(dì)應用在制造業 金屬加工業、化工業 商檢等檢測領域。是材料保護專業必備的(de)儀器。

解決了困擾大家許久的(de)溫度漂移問題，當被測物與環境溫度偏差較大時，實測值與真實值差異大的(de)難題

探頭具有優良的(de)的(de)測值重複性。

超低(dī)功耗 正常工作電流小于3mA，可(kě)連續工作500小時以上;

突破性解決了溫度變化對測 結果的(de)影響(解決了溫漂問題)快速測量: 速度快 即使在統計狀态也可(kě)快速測 并适時統計，毫無延時，

采用了磁性和(hé)渦流兩種測厚萬法，既可(kě)測 磁性金屬基體上非磁性 蓋層的(de)厚度

又可(kě)測 非磁性金屬基體上非導電 蓋層的(de)厚度，

可(kě)選自(zì)己 種測頭(F400 F500 F1 F1 F10 F3 N400 N1 N3) 具有兩種測 方式 連續測 方式 (CONTINUE 和(hé)單次測 方式 (5INGLE

真高(gāo)兩種工作方式 直接方式(DIRECT)和(hé)成組方式(A-B)

設有五個統計 .平均值 (MEAN 、*大值 (MAX *小值 (MIN測試次數 (NO )、 标準偏差 (5. DEV) 

可(kě)采用兩種方法對儀器進行校準，并可(kě)用基本校準法對測頭的(de)系統誤差進行修正

基本校;佳指示功能 友好的(de)基本校準界面，自(zì)動提示當前校;佳的(de)點号

具青存貯功能 可(kě)存貯768個測 值

具有數據浏覽功能 可(kě)浏覽所有測 數據、統計數據;

探頭規格參數

測頭型号		F400/F500		F1		F1/90°	F3		F10
工作原理(lǐ)		磁    感    應
測量範圍(um)		0～400/500		0～1250				0～3000	0～10000
低(dī)限分辨力(um)		0.1		0.1				1	10
示值 誤差	一(yī)點校準(um)	±(3%H+1)						±(3%H+5)	±(3%H+10)
	二點校準(um)	±((1～3)%H+0.7)		±((1～3)%H+1)				±((1～3)%H+5)	±((1～3)%H+10)
測 試 條 件	小曲率半徑(mm)	凸	1	1.5	平直			5	10
	小面積的(de)直徑(mm)	F3		F7	F7			F20	F40
	基體臨界厚度(mm)	0.2		0.5	0.5			1	2

 

測頭型号		N400			N1	N1/90	N3		N10（定制）
工作原理(lǐ)		渦    流
( 銅上鍍鉻  0～40um) 測量範圍(um)		0～400		0～1250				0～3000	0～10000
低(dī)限分辨力(um)		0.1		0.1				1	10
示 值 誤差	一(yī)點校準(um)	±(3%H+0.7)		±(3%H+1.5)				±(3%H+1)	±(3%H+25)
	二點校準(um)	±[(1～3%H+0.7)		±[(1～3)%H+1.5]				___	±((1～3)%H+25)
測 試 條 件	小曲率半徑(mm)	凸	1.5	3		平直		僅為(wèi)平直	25
	小面積的(de)直徑(mm)	F4		F5		F5		F7	F50
	基體臨界厚度(mm)	0.3		0.3		0.3		無限制	5mm鋁箔

                    

注：H——标稱值

 

附表2                    測頭選用參考表  

覆蓋層  基體		有機材料等非磁性覆蓋層(如(rú):漆料、塗漆、琺琅、搪瓷、 塑料和(hé)陽極化處理(lǐ)等)
		覆蓋層厚度不超過100um	覆蓋層厚度超過100um
如(rú)鐵、鋼等磁性金屬	（平面測量時）被測面積的(de)直徑大于30mm	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um	F1型測頭    0～1250um F5型測頭    0～5mm F10型測頭   0～10mm
	被測面積的(de)直徑 小于30mm	F400型測頭  0～400um	F1型測頭    0～1250um F400型測頭  0～400um
如(rú)銅  、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬	被測面積的(de)直徑 大于10mm	N400型測頭  0～400um	N400型測頭  0～400um N10型測頭   0～10mm
	被測面積的(de)直徑 小于10mm	N400型測頭  0～400um	N1型測頭    0～1250um N400型測頭  0～400um

 測頭選用參考表(續表)

覆蓋層         基體		非磁性的(de)有色金屬覆蓋層(如(rú):鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
		覆蓋層厚度不超過100um	覆蓋層厚度超過100um
如(rú) 鐵、鋼等磁性金屬	（平面測量時）被測面積的(de)直徑大于30mm	F400型測頭  0～400um	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um    F5型測頭    0～5mm F10型測頭   0～10mm
	被測面積的(de)直徑 小于30mm	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um	F400型測頭  0～400µm F1型測頭    0～1250um
如(rú)銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬	被測面積的(de)直徑 大于10mm	僅用于銅上鍍鉻 N400型測頭  0～40um	--------
		--------	--------

 标準配置：主機1、探頭1、電池3、基體1、标準片5、原産地(dì)證書1、手提箱。

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