産品[
TT860 鍍鋅層測厚儀
]資料
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産品名稱:
TT860 鍍鋅層測厚儀
産品型号:
TT860
産品展商:
其它品牌
産品文檔:
簡單介紹
北京最好科技有限公司生産的(de)TT860 鍍鋅層測厚儀主要用于所有鍍層厚度和(hé)重量（質量）測試。TT860 鍍鋅層測厚儀符合國标GB/T3091—2001标準，GB/T13912 标準以及符合以下标準：GB/T 4956─2003 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法.
TT860 鍍鋅層測厚儀
的(de)詳細介紹
TT860 鍍鋅層測厚儀是北京時代山峰科技公司生産是一(yī)款增強型鍍層測厚儀，能夠直接顯示鍍層的(de)厚度和(hé)重量，尤其适用于鋼闆及鋼帶表面鍍鋅層、鍍鉻層等厚度及重量的(de)測量（同時顯示鍍層厚度和(hé)重量）。
鍍鋅層測厚儀采用磁性原理(lǐ)進行測量：能夠快速、無損傷、精密地(dì)測量磁性金屬基體(如(rú)鋼、鐵、合金和(hé)硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的(de)厚度(如(rú)鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)；
密度法原理(lǐ)：針對鍍層輸入材料密度可(kě)以同時計算出鍍層重量。
舉例：以鋅層國标密度為(wèi)例---密度7.14克/立方厘米，設置輸入後，測量時可(kě)以顯示鋅層厚度和(hé)鋅層重量。
TT860鍍鋅層測厚儀符合國标GB/T3091—2001标準；GB/T13912 标準以及符合以下标準：GB/T 4956─2003 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法；JJG 889─98 《磁阻法測厚儀》。
測厚原理(lǐ)：磁性法原理(lǐ) （如(rú)果增加探頭擴展：渦流法，測量有色金屬上的(de)非導電覆層）
測重原理(lǐ)：密度法原理(lǐ)
儀器特點：
可(kě)直接顯示覆層厚度和(hé)重量
采用高(gāo)精度采樣芯片和(hé)專用校準模型，配合**的(de)實時溫度補償技術，實現精準測量
采用高(gāo)效的(de)數據處理(lǐ)技術，排除電磁幹擾及手持操作的(de)影響
可(kě)對厚度、重量、時間、密度設定值等測量信息進行完整存儲
可(kě)與PC機實現數據傳輸
支持實時在線測量，主機軟件可(kě)進行升級
主要功能：
具有高(gāo)精度單點測量、掃描測量、重量測量、差值測量、平均值測量等多種測量模式
具有零點校準、一(yī)點校準、兩點校準和(hé)基本校準功能，可(kě)對系統誤差進行自(zì)動修正
具有數據存儲功能，并可(kě)對以保存的(de)數據分組進行統計分析
可(kě)設置測量值上下限，超出範圍自(zì)動蜂鳴報警
具有耦合狀态提示功能，直觀掌握測量狀态
具有電量指示功能，可(kě)實時顯示電池剩餘電量
技術參數：
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探頭規格
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F型 （磁感應）
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适用範圍
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磁性金屬基體上非磁性鍍層、塗層的(de)厚度和(hé)重量（質量）
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測量範圍
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0 ~ 1500 um
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測試工件小曲率半徑
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凸 1.5 mm
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測試工件小面積直徑
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Φ7 mm
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測試工件基體臨界厚度
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0.5 mm
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顯示精度
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0.1 g/m2，0.1 um（0 ~ 99.9 um），1um（100 ~ 1500 um）
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密度範圍
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0.01 ~ 99.99 g/cm3
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測量誤差（零點校準）
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±(2%H+1) um
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測量誤差（一(yī)點校準）
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±(2%H+1) um
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測量誤差（兩點校準）
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±[(1~2)%H+1] um
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測量誤差（基本校準）
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±(1%H+1) um
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測量周期
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3次/秒
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校準方式
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零點校準、一(yī)點校準、兩點校準、基本校準
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測量模式
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高(gāo)精度單次測量模式、掃描測量模式、重量模式、差值模式、平均值模式、報警模式
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屏幕顯示
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中英文菜單可(kě)切換，FSTN LCD顯示，帶冷光源照明背光
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顯示內(nèi)容
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厚度測量值、重量轉換值、密度設定值、日期、時間、耦合狀态、電量指示、測量模式、測頭類型、實時溫度補償狀态、數據存儲狀态、存儲文件狀态等
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數據存儲
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500組測量結果，包括測量時間、測頭類型、密度設置等相關信息
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數據通訊
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Mini-USB接口，虛拟串口通訊，支持實時在線測量，主機程序可(kě)升級
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數據打印
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可(kě)選配便攜式熱敏打印機
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工作電源
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3節7号電池，可(kě)連續工作100小時（不開背光）
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自(zì)動關機
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待機超時（可(kě)設置）自(zì)動關機，欠壓（低(dī)于3.2V）自(zì)動關機
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環境溫度
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使用溫度：-10 ~ 50 °C，存放溫度：-30 ~ 60 °C
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外形尺寸
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150mm*70mm*30mm
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外殼材質
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ABS+PC合金
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整機重量
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160g
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TT860鍍鋅層測厚儀标準配置：
主機，探頭，校準片1套 合格證，保修卡，手提箱。