激光測量儀器|北京最好科技有限公司

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激光功率計 激光全站儀 測量顯微鏡 投影儀 激光掃描測量儀 金相顯微鏡 激光測距儀 激光對中儀 激光測徑儀 激光測速儀

産品圖片	産品名稱/型号	産品簡單介紹
	投影儀 152-390, 152-389	投影儀 •帶有非旋轉裝置。 •可(kě)在任意套管讀數進行調零 (浮動心軸)。 •黑紅(hóng)雙邊刻度，可(kě)在兩個方向輕松地(dì)進行讀取。 •夾杆軸套外徑：18mm。
	投影儀 172 系列	投影儀 •采用水平光學(xué)系統得台式投影儀。 •适于螺紋間距測量——工件旋轉時，圖像不會産生毛邊或扭曲。 •明亮(liàng)屏幕顯示正像 * (*倒像：PH-A14)。
	投影儀 304 系列	投影儀 •頂部照明的(de)落地(dì)式投影儀，可(kě)配用定位方便的(de)大屏幕，從而投影圖像易于跟蹤，易于與模闆比較。 •數顯讀數測角投影屏 (具有調零、ABS/INC 坐标轉換功能) 便于讀數，可(kě)有效減少角度測量誤差
	投影儀 303 系列	投影儀通過分離(lí)軸向移動，使 XY 工作台在垂直方向上移動更穩定，PJ-H30 系列投影儀具有 (3+0.02L)µm 的(de)高(gāo)測量精度；可(kě)通過手動或電動上、下調節屏幕微分頭實現聚焦。電動聚焦 (PJ-H30D 型) 具有更高(gāo)的(de)操作性能。
	Leica Roteo 35G 激光掃平儀 Roteo 35G	Leica Roteo 35G 激光掃平儀新品: Leica Roteo 35G 具有Leica Roteo 35的(de)全部特性. 除此之外, 它還使用了綠色激光束, 在極明亮(liàng)的(de)環境下或超長(cháng)距離(lí)範圍內(nèi)具有**的(de)可(kě)見度.
	數顯标尺 572 系列	數顯标尺 •采用**檢測方式 (電磁感應式)，可(kě)在有水及切削油的(de)不利環境中使用。 •為(wèi)保護防水構造特别設計的(de)輸出電纜。 •采用不依賴于刻度分度值的(de) ABSOLUTE 刻度，不會産生超速錯誤。
	激光掃描測量儀 544 系列 —LSM-6200	激光掃描測量儀 •利用雙顯示設計，可(kě)連續監視(shì)設置值，兩個測量值可(kě)同時顯示。 •可(kě)選擇分段測量(多7段)或邊緣測量(1-255)
	激光掃描測量儀 544 系列 — 用于實時多路測量的(de)袖珍型顯示裝置	激光掃描測量儀 •面闆安裝型 (DIN 标準尺寸), 易于系統集成。 •能計算均值、大值、小值和(hé)範圍 ( 大值 - 小值)。 •可(kě)選擇分段測量 (多 7 段) 或邊緣測量 (1 - 255)。 • USB 端口 ,RS-232C 端口 ,I/O 端口和(hé)模拟端口為(wèi)标準配置。
	激光掃描測量儀 544 系列 — 台面型非接觸測量系統	激光掃描測量儀•測量系統與顯示器合并為(wèi)一(yī)體，便于工作台面檢驗。 •具有統計計算功能。 •含有标準 RS-232C 接口與 SPC 輸出接口。
	激光掃描測量儀 544 系列	激光掃描測量儀 •多用途型，測量範圍從1mm - 60mm。 •高(gāo)測量精度，在全測量範圍內(nèi)達±3µm，在窄測量範圍內(nèi)達 ±(1.5+0.5∆D)µm高(gāo)測量精度。 •高(gāo)重複精度達±0.36µm。
	激光掃描測量計 544 系列 — 高(gāo)精度非接觸測量系統	激光掃描測量計 •可(kě)測量直徑小至 ø5µm。 •超高(gāo)測量精度，在全測量範圍 (5µm-2mm)，內(nèi)直線度達 ±0.3µm。 •超高(gāo)重複精度達 ±0.03µm。
	激光掃描測量計 544 系列	激光掃描測量計 • 适于對銷規和(hé)塞規進行測量。 • 測量範圍可(kě)從 ø0.1mm - ø25mm。 •超高(gāo)測量精度，在全測量範圍內(nèi)直線度達 ±0.5µm，窄測量範圍內(nèi)達 (0.3+0.1∆D)µm。 • 超高(gāo)重複精度達 ±0.05µm
	XH-500/D/C便攜式金相顯微鏡 XH-500/D/C	XH-500/D/C便攜式金相顯微鏡（現場金相顯微鏡），不用切割取樣，直接在工件上打磨、抛光，顯微鏡底座帶有磁力吸座，直接吸附在工件上觀察組織——現場金相檢驗。 XH-500現場目鏡測量 XH-500D可(kě)連接1500萬以上像素數碼相機與電腦連接進行數據存儲分析。 XH-500C含視(shì)頻成像系統及金相分析軟件與電腦連接。
	BX-500 便攜式金相顯微鏡 BX-500/500Z/500E	BX-500 便攜式金相顯微鏡是适用于現場多種大型工件的(de)金相檢查、失效分析的(de)顯微鏡，它不用切割取樣，可(kě)直接在工件上打磨、抛光，從而保證工件的(de)完整性。顯微鏡底座帶有磁力吸座，直接吸附在工件上觀察組織的(de)現場金相檢驗。XH-500Z便攜式金相顯微鏡可(kě)連接400萬以上像素數碼相機，XH-500E便攜式金相顯微鏡含視(shì)頻成像系統及金相分析軟件。
	BJ-X 手持式金相顯微鏡 BJ-X	BJ-X 手持式金相顯微鏡又稱便攜式金相顯微鏡-現場金相顯微鏡，由于儀器自(zì)帶垂直照明光源，可(kě)以很方便的(de)用于現場或無法制作試樣時鑒别各種金屬和(hé)合金的(de)組織結構，手持型金相顯微鏡可(kě)廣泛的(de)應用在工廠、實驗室進行鑄件質量的(de)鑒定、原材料檢驗或對材料處理(lǐ)後金相組織的(de)研究分析等工作，手持型金相顯微鏡也可(kě)以用作古董寶石及作表面細微觀察之用。
	倒置金相顯微鏡 4XBC	4XB雙目倒置金相顯微鏡用以鑒别和(hé)分析各種金屬和(hé)合金的(de)組織結構。金相顯微鏡可(kě)廣泛地(dì)應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的(de)鑒定、原材料的(de)檢驗或對材料處理(lǐ)後金相組織的(de)研究分析等工作。倒置金相顯微鏡成像清晰、視(shì)野寬廣，整體設計符合人體工程學(xué)原理(lǐ)。攝像機連接電腦按國家标準自(zì)動分析金相組織，含自(zì)動、半自(zì)動評級共計有 300 多種大類的(de) 金相組織國家标準。1000 多幅國家标準圖譜！是金相組織分析人員的(de)理(lǐ)想工具。
	4XC 倒置金相顯微鏡 4XC	4XC 倒置金相顯微鏡:分為(wèi)4XC-PC電腦型/4XC-D數碼相機型，倒置金相顯微鏡主要用于鑒别和(hé)分析現金屬內(nèi)部結構組織，倒置金相顯微鏡是金屬學(xué)研究金相的(de)重要儀器。鑄造。冶煉、熱處理(lǐ)的(de)質量研究，原材料的(de)檢驗或材料處理(lǐ)後的(de)分析等均可(kě)使用倒置金相顯微鏡。
	XJP-6A 台式金相顯微鏡 XJP-6A	XJP-6A 台式金相顯微鏡·明場，偏光，暗場等觀察方式可(kě)選 ·同軸式機械載物台，無需壓平試樣 ·寬視(shì)野雙目鏡筒，具有視(shì)覺補償功能 ·照明光源配備對中調節輪，圖像明亮(liàng)均勻 ·平場消色差物鏡組，提供高(gāo)分辨率圖像 ·易于連接數碼，135照相，視(shì)頻成像
	CMM-20E/CMM-20Z倒置金相顯微鏡 CMM-20E/CMM-20Z	CMM-20E/CMM-20Z倒置金相顯微鏡，倒置金相顯微鏡配有平場物鏡、大視(shì)野目鏡，圖像清晰、襯度好，光學(xué)放大倍率齊全。倒置金相顯微鏡主要用于鑒别和(hé)分析金屬內(nèi)部結構組織，鑄件質量的(de)鑒定；原材料的(de)檢驗或材料處理(lǐ)後的(de)金相組織分析；對表面噴塗、裂紋等表面狀況進行觀察分析。倒置金相顯微鏡廣泛應用在廠礦企業的(de)實驗室、高(gāo)等院校重點實驗室及科研等部門。倒置金相顯微鏡能将所需要的(de)圖片進行編輯、保存和(hé)打印。
	CMM-22E/CMM-22Z倒置金相顯微鏡 CMM-22E/CMM-22Z	CMM-22E/CMM-22Z倒置金相顯微鏡主要用于鑒定和(hé)分析金屬內(nèi)部結構組織，倒置金相顯微鏡是金屬學(xué)研究金相的(de)重要儀器，是工業部門鑒定産品質量的(de)關鍵設備。倒置金相顯微鏡主要用以鑒别和(hé)分析各種金屬及合金的(de)組織結構，應用于工廠或實驗室進行鑄件質量鑒定，原材料的(de)檢驗或對材料處理(lǐ)後金相組織的(de)研究分析等工作。倒置金相顯微鏡不僅能觀察動态圖像，還能将所需要的(de)圖片進行編輯、保存和(hé)打印。

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